10K
2986
光電子能譜
以一定能量的X射線或光（如紫外光）照射固體表面時，被束縛于原子各種深度的量子化能級上的電子被激發(fā)而產(chǎn)生光電子發(fā)射，這些自由電子帶有樣品表面信息并具有特征動能，通過能量分析器收集和研究它們的能量分布，用以檢測被打出來的光電子信號強度與能量關(guān)系曲線，即可得到測試樣品的光電子能譜。
光電子能譜的基本原理是愛因斯坦的光電效應(yīng)定律，用以分析原子、分子、凝聚相，尤其是固體表面元素、組成及其化學(xué)狀態(tài)等電子結(jié)構(gòu)信息。根據(jù)其激發(fā)光源的不同，光電子能譜可分為X射線光電子能譜和紫外光電子能譜。X射線光電子能譜法具有結(jié)合分析表面和界面性質(zhì)及廣泛適用性的特點，用已知能量的單色X射線源定性分析原子在化合物中的價態(tài)，并推斷元素在材料中的化學(xué)狀態(tài)和化合形態(tài)，光譜解析簡單。紫外光電子能譜法主要分析價層軌道里的電子的能量和作用。由于激發(fā)源的光子能量較低，紫外光電子能譜主要用于考察氣相原子、分子以及吸附分子的價電子結(jié)構(gòu)，可獲得有關(guān)分子穩(wěn)定性與反應(yīng)性等信息，但圖譜解析復(fù)雜。
光電子能譜可以分析除氫和氦元素之外的所有其他元素，直接測定來自樣品的單個能級發(fā)射的光電子能量分布，得到電子能級結(jié)構(gòu)的信息，研究固體表面組成和結(jié)構(gòu)。可以測定在各個被占據(jù)軌道上電子電離所需要的能量，為分子軌道理論提供實驗依據(jù)。
